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IC测试治具

PGA手动测试治具
、适合各种封装形式的手动自动测试治具。

、适合于CSP、BGA、mBGA、DIP、PGA、ZIP、PLCC、PQFP、SQIP、SOIC、QFP、MLF、QFN、FBP等各类IC的测试。

、测试间距0.30mm。

、可根据需求定制与各类Handler配合的自动测试治具。

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